表面光洁度显微镜
The surface roughness of microlens is measured by an atomic force microscope ( AFM-ⅱ). Micro-lens forming mechanics has been analyzed by surface tension theory.
用AFMⅡ型原子力显微镜测得微透镜阵列的表面粗糙度Ra约等于0.9nm,并通过液体的表面张力理论分析了微透镜的形成机理。
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